国家电子电器产品检测中心
刘工
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样品名称：半导体集成电路MOS随机存储器
检测项目：输入低电平电流IIL
认可资质：其它
检测标准：半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路第Ⅳ篇 GB/T17574-1998 方法38
服务地点：全国
适用范围：电子电气
标签： 半导体集成电路MOS随机存储器 输入低电平电流IIL 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路第Ⅳ篇 GB/T17574-1998 方法38
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