国家电子电器产品检测中心
刘工
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样品名称:半导体器件
检测项目:键合强度(破坏性键合线拉力试验)
认可资质:其它
检测标准:半导体器件的机械试验方法 第2部分:方法2001 至2999 MIL-STD-750-2B:2022 方法2037.1
服务地点:全国
适用范围:电子电气
标签: 半导体器件 键合强度(破坏性键合线拉力试验) 半导体器件的机械试验方法 第2部分:方法2001 至2999 MIL-STD-750-2B:2022 方法2037.1
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