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半导体器件中高温栅极偏置(HTGB)检测

  • 样品名称:半导体器件

  • 检测项目:高温栅极偏置(HTGB)

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 7.2.5.2

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体器件 高温栅极偏置(HTGB) 半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 7.2.5.2

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