国家电子电器产品检测中心
刘工
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样品名称：半导体器件
检测项目：温度循环（温度冲击试验）
认可资质：其它
检测标准：半导体器件 机械和气候试验方法 第25部分：温度循环 IEC 60749-25:2003
服务地点：全国
适用范围：电子电气
标签： 半导体器件 温度循环（温度冲击试验） 半导体器件 机械和气候试验方法 第25部分：温度循环 IEC 60749-25:2003
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