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半导体中全部参数检测

  • 样品名称:半导体

  • 检测项目:全部参数

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法 GB/T 14862-1993

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体 全部参数 半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法 GB/T 14862-1993

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