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半导体器件中高温高湿反偏试验检测

  • 样品名称:半导体器件

  • 检测项目:高温高湿反偏试验

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:半导体器件机械和气候测试方法-第5部分:稳态温湿度偏置寿命测试 IEC 60749-5:2017

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体器件 高温高湿反偏试验 半导体器件机械和气候测试方法-第5部分:稳态温湿度偏置寿命测试 IEC 60749-5:2017

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