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半导体器件中热阻检测

  • 样品名称:半导体器件

  • 检测项目:热阻

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:一维传热路径下半导体器件结壳热阻瞬态双界面测试法 JESD51-14-2010

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体器件 热阻 一维传热路径下半导体器件结壳热阻瞬态双界面测试法 JESD51-14-2010

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