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半导体器件中单纵模LD或LD组件边模抑制比(SMSR)检测

  • 样品名称:半导体器件

  • 检测项目:单纵模LD或LD组件边模抑制比(SMSR)

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:用于光纤系统的半导体光电子器件 第2部分:测试方法 YD/T 2001.2-2011 5.14

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体器件 单纵模LD或LD组件边模抑制比(SMSR) 用于光纤系统的半导体光电子器件 第2部分:测试方法 YD/T 2001.2-2011 5.14

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