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半导体晶体场效应管(MOSFET,碳化硅MOSFET)中漏-源击穿电压V(BR)DSS检测

  • 样品名称:半导体晶体场效应管(MOSFET,碳化硅MOSFET)

  • 检测项目:漏-源击穿电压V(BR)DSS

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 3407

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体晶体场效应管(MOSFET,碳化硅MOSFET) 漏-源击穿电压V(BR)DSS 半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 3407

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