国家电子电器产品检测中心
刘工
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样品名称:半导体晶体场效应管(MOSFET,碳化硅MOSFET)
检测项目:漏-源击穿电压V(BR)DSS
认可资质:其它
检测标准:半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 3407
服务地点:全国
适用范围:电子电气
标签: 半导体晶体场效应管(MOSFET,碳化硅MOSFET) 漏-源击穿电压V(BR)DSS 半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 3407
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