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半导体IGBT电路中低温测试检测

  • 样品名称:半导体IGBT电路

  • 检测项目:低温测试

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:半导体器件 分立器件第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012 6.3.3

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体IGBT电路 低温测试 半导体器件 分立器件第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012 6.3.3

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