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半导体器件中剪切力试验检测

  • 样品名称:半导体器件

  • 检测项目:剪切力试验

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:引线键合剪切力测试 AEC-Q100-001 REV-C:1998

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体器件 剪切力试验 引线键合剪切力测试 AEC-Q100-001 REV-C:1998

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