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半导体器件中通态漏-源电阻(在小信号条件下)rds(on)检测

  • 样品名称:半导体器件

  • 检测项目:通态漏-源电阻(在小信号条件下)rds(on)

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:半导体器件 分立器件 第8部分:场效应管 GB/T 4586-1994/IEC 747-8- 1984 IV.16

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体器件 通态漏-源电阻(在小信号条件下)rds(on) 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应管 GB/T 4586-1994/IEC 747-8- 1984 IV.16

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