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半导体集成电路CMOS电路中输入高电平电流IIH检测

  • 样品名称:半导体集成电路CMOS电路

  • 检测项目:输入高电平电流IIH

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.9

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体集成电路CMOS电路 输入高电平电流IIH 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.9

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