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半导体电子元器件中高温反偏检测

  • 样品名称:半导体电子元器件

  • 检测项目:高温反偏

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:半导体器件的环境试验方法 第1部分:测试方法 方法1038 老炼(用于二极管,整流器和稳压管) MIL-STD-750F-2012 方法 1038

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体电子元器件 高温反偏 半导体器件的环境试验方法 第1部分:测试方法 方法1038 老炼(用于二极管,整流器和稳压管) MIL-STD-750F-2012 方法 1038

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