国家电子电器产品检测中心
刘工
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样品名称：半导体电子元器件
检测项目：间歇老化
认可资质：其它
检测标准：半导体器件的环境试验方法 第1部分:测试方法 方法1037 间歇工作寿命（抽样方案） MIL-STD-750F-2012 方法 1037
服务地点：全国
适用范围：电子电气
标签： 半导体电子元器件 间歇老化 半导体器件的环境试验方法 第1部分:测试方法 方法1037 间歇工作寿命（抽样方案） MIL-STD-750F-2012 方法 1037
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