国家电子电器产品检测中心
刘工
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样品名称：电子元件、半导体分立器件
检测项目：温度冲击试验
认可资质：其它
检测标准：半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法 1051
服务地点：全国
适用范围：电子电气
标签： 电子元件、半导体分立器件 温度冲击试验 半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法 1051
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