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电子元件、半导体分立器件中高温寿命实验检测

  • 样品名称:电子元件、半导体分立器件

  • 检测项目:高温寿命实验

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法 1008.1方法 1011.1方法 1012

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 电子元件、半导体分立器件 高温寿命实验 微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法 1008.1方法 1011.1方法 1012

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