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半导体分立器件和集成电路光电子器件中集电极-发射极击穿电压检测

  • 样品名称:半导体分立器件和集成电路光电子器件

  • 检测项目:集电极-发射极击穿电压

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 方法5.6

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体分立器件和集成电路光电子器件 集电极-发射极击穿电压 半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 方法5.6

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