国家电子电器产品检测中心
刘工
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样品名称：半导体集成电路
检测项目：键合强度测试
认可资质：其它
检测标准：半导体集成电路失效分析程序和方法,微电子器件试验方法和程序 GJB3233-98,GJB548B-2005 5.2.13,方法2011.1
服务地点：全国
适用范围：电子电气
标签： 半导体集成电路 键合强度测试 半导体集成电路失效分析程序和方法,微电子器件试验方法和程序 GJB3233-98,GJB548B-2005 5.2.13,方法2011.1
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