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单晶硅中代位碳含量(低温)检测

  • 样品名称:单晶硅

  • 检测项目:代位碳含量(低温)

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:硅单晶中碳、氧含量的测定 低温傅 立叶变换红外光谱法 GB/T 35306-2017

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 单晶硅 代位碳含量(低温) 硅单晶中碳、氧含量的测定 低温傅 立叶变换红外光谱法 GB/T 35306-2017

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