电子元器件中扫描电子显微镜(SEM)检查检测

  • 样品名称:电子元器件

  • 检测项目:扫描电子显微镜(SEM)检查

  • 认可资质:CNAS

  • 检测标准:《半导体集成电路失效分析程序和方法》 GJB3233-1998

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 电子元器件 扫描电子显微镜(SEM)检查 《半导体集成电路失效分析程序和方法》 GJB3233-1998

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