电子元器件中X射线检查检测

  • 样品名称:电子元器件

  • 检测项目:X射线检查

  • 认可资质:CNAS

  • 检测标准:《半导体分立器件试验方法》 GJB128A-1997

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 电子元器件 X射线检查 《半导体分立器件试验方法》 GJB128A-1997

一键咨询