数字集成电路中输入低电平电流IIL检测

  • 样品名称:数字集成电路

  • 检测项目:输入低电平电流IIL

  • 认可资质:CNAS

  • 检测标准:《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》 SJ/T10741-2009

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 数字集成电路 输入低电平电流IIL 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》 SJ/T10741-2009

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