正电子发射及X射线计算机断层成像系统中全部参数检测

  • 样品名称:正电子发射及X射线计算机断层成像系统

  • 检测项目:全部参数

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:《正电子发射及X射线计算机断层成像系统性能和试验方法》 YY/T 0829-2011

  • 服务地点:上海市 嘉定区

  • 适用范围:医疗器械

  • 标签: 正电子发射及X射线计算机断层成像系统 全部参数 《正电子发射及X射线计算机断层成像系统性能和试验方法》 YY/T 0829-2011

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