单光子发射及X射线计算机断层成像系统中系统计数率特性检测

  • 样品名称:单光子发射及X射线计算机断层成像系统

  • 检测项目:系统计数率特性

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:单光子发射及X射线计算机断层成像系统性能和试验方法 YY/T 1408-2016 4.1.8

  • 服务地点:上海市 嘉定区

  • 适用范围:医疗器械

  • 标签: 单光子发射及X射线计算机断层成像系统 系统计数率特性 单光子发射及X射线计算机断层成像系统性能和试验方法 YY/T 1408-2016 4.1.8

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