微电子材料中硅片直径测量的检测

检测项：硅片直径测量 检测样品：微电子材料 标准：GB/T14140-2009 硅片直径测量方法

检测机构：国家材料分析检测中心 更多相关信息>>

光伏硅片中氧含量的检测

检测项：氧含量 检测样品：光伏硅片 标准：硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法 GB/T 1557-2018

检测机构：国家电子电器产品检测中心 更多相关信息>>

万向硅峰电子股份有限公司检测中心

检测项：氧含量 检测样品：硅片 标准：《硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法》GB/T 1557-2006

检测项：碳含量 检测样品：硅片 标准：《硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法》GB/T 1558-2009

检测项：电阻率 检测样品：硅片 标准：《硅单晶电阻率测定方法》GB/T 1551-2009

机构所在地：浙江省衢州市 更多相关信息>>

北京科大分析检验中心有限公司

检测项：电阻率 (电阻系数) 检测样品：半导体材料 标准：硅片电阻率测定 扩展电阻探针法 GB/T 6617-2009

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

连云港市质量技术综合检验检测中心

检测项：III-V族杂质含量 检测样品：晶体硅 标准：《半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定非接触涡流法》 GB/T 6616-2009

检测项：直径及允许偏差 检测样品：晶体硅 标准：《硅片直径测量方法》 GB/T 14140-2009

检测项：径向电阻率变化测量 检测样品：晶体硅 标准：《硅片径向电阻率变化的测量方法》 GB/T 11073-2007

机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>