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检测项：参数测试 检测样品：运算放大器 标准：QJ2491-93 半导体集成电路 运算放大器测试方法
检测机构：国家电子电器产品检测中心 更多相关信息>>
检测项：阈值电压VT 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：QJ 2491-93 半导体集成电路运算放大器测试方法
检测项：阈值电流IT 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：QJ 2491-93 半导体集成电路运算放大器测试方法
检测项：控制端电压VC 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：QJ 2491-93 半导体集成电路运算放大器测试方法
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：释放电压 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988
检测项：吸合时间 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988
检测项：释放时间 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：输入失调电流 检测样品：运算放大器 标准：半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
检测项：输入偏置电流 检测样品：运算放大器 标准：半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
检测项：开环电压增益 检测样品：运算放大器 标准：半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：运算放大器 标准：《半导休集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》SJ/T 10738-1996
检测项：输出高电平电流IOH 检测样品：运算放大器 标准：《半导休集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》SJ/T 10738-1996
检测项：输出低电平电流IOL 检测样品：运算放大器 标准：《半导休集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》SJ/T 10738-1996
机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项：短路电流 检测样品：运算 放大器 标准：半导体集成电路运算放大器测试方法基本原理 SJ/T10738-1996
检测项：开环增益AVO 检测样品：运算 放大器 标准：半导体集成电路运算放大器测试方法基本原理 SJ/T10738-1996
检测项：电源电流 检测样品：运算放大器 标准：半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项：输入失调电压 检测样品：运算放大器 标准：半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>
检测项：维持电流（IH） 检测样品：运算放大器 标准：GB/T17940-2000 《半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路》
检测项：断态电流(ID) 检测样品：运算放大器 标准：GB/T17940-2000 《半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路》
检测项：输入失调电压VIO 检测样品：运算放大器 标准：GB/T17940-2000 《半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路》
检测项：温度循环 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996
检测项：静态功耗 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996
机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项：输出短路电流 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-96 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理
检测项：电源电流 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-96 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理
检测项：功能测试 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-96 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理
机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>
