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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:环境和操作条件改变的适应性 检测样品:银联PIN输入设备安全 标准:
检测项:触点的数量和位置 检测样品:带触点的集成电路卡及其受理设备 标准:不测点压力
检测项:触点的数量和位置 检测样品:带触点的集成电路卡及其受理设备 标准:ISO/IEC 10373-1: 2006不测:抗X射线、燃料B、盐雾
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:温度改变试验 检测样品:电子电气产品 标准:环境试验 第2-78部分:试验 试验Cab:湿热、稳态 IEC 60068-2-78:2012
检测项:温度改变试验 检测样品:电子电气产品 标准:电工电子产品环境试验 第2部分;试验方法 试验N: 温度变化GB/T 2423.22-2012
检测项:二次电路直流电动机堵转过载试验 检测样品:通讯及信息产品 标准:人造环境中的腐蚀试验.盐务试验ISO 9227-2012
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:设备噪声 检测样品:噪声和振动 标准:《声学 机器和设备发射的噪声 工作位置和其他指定位置发射声压级的测定 现场简易法》 GB/T 17248.3-1999
检测项:总汞 检测样品:土壤、底质和固废 标准:《土壤质量 总汞、总砷、总铅的测定 原子荧光法》 第1部分:土壤中总汞的测定GB/T22105.1-2008
机构所在地:江苏省宜兴市 更多相关信息>>
检测项:声学机器和设备发射的噪声 检测样品:振动 标准:工作位置和其他指定位置发射声压级的测量现场简易法GB/T17248.3-1999
检测项:液阻 检测样品:(加油站大气污染物)油气回收 标准:原油中的所选元素以及已用润滑油中的附加元素、耐磨金属和杂质的标准试验方法 电感耦合等离子体发射光谱法 ASTM D 5185-2005
检测项:水温 检测样品:水和废水 标准:水质 水温的测定 温度计或颠倒温度计测定法 GB/T 13195-1991
检测项:噪声源噪声 检测样品:辐射 标准:声学 机器和设备发射的噪声工作位置和其他指定位置发射声压级的测量现场简易法GB/T 17248.3-1999
检测项:总硬度(钙和镁的总量) 检测样品:水和废水 标准:大气降水中钙、镁的测定 原子吸收分光光度法GB/T 13580.13-1992
检测项:总硬度(钙和镁的总量) 检测样品:水和废水 标准:水质 钙和镁总量的测定 EDTA滴定法 GB/T 7477-1987
机构所在地:广东省东莞市 更多相关信息>>
检测项:噪声源 检测样品:煤 标准:声学 机器和设备发射的噪声工作位置和其他指定位置发射声压级的测量 现场简易法 GB/T 17248.3-1999
检测项:挥发分 检测样品: 标准:挥发分的测定 煤的工业分析方法 GB/T 212-2008 5
检测项:总汞 检测样品:土壤和底质 标准:土壤质量 总汞、总砷、总铅的测定 原子荧光法 第一部份:土壤中总汞的测定 GB/T 22105.1-2008
机构所在地:河南省郑州市 更多相关信息>>
检测项:位置误差 检测样品:盐雾试验箱 标准:GB/T 10587-2006《盐雾试验箱技术条件》
检测项:体积 检测样品:机械零件 标准:GB/T 1958-2004 《产品几何量技术规范(GPS)形状和位置公差 检测规定》
机构所在地:江苏省苏州市 更多相关信息>>
检测项:后牌照板安装位置 检测样品:摩托车和轻便摩托车发动机 标准:关于两轮及三轮摩托车后牌照的安装位置 93/94/EEC
检测项:全部项目 检测样品:摩托车和轻便摩托车发动机 标准:关于两轮及三轮摩托车后牌照的安装位置—对93/94/EEC的修订 1999/26/EC
机构所在地:江西省南昌市 更多相关信息>>
检测项:*后牌照板安装位置 检测样品:摩托车、轻便摩托车、助力车 标准:两轮及三轮摩托车后牌照的安装位置93/94/EEC
检测项:*后牌照板安装位置 检测样品:摩托车、轻便摩托车、助力车 标准:机动车运行安全技术条件GB 7258-2004
检测项:*后牌照板安装位置 检测样品:摩托车、轻便摩托车、助力车 标准:轻便摩托车 制动器和制动装置 试验和测量方法ISO 8709-1995
机构所在地:天津市 更多相关信息>>
检测项:尺寸与位置 检测样品:射频识别标签 标准:ISO/IEC 10536-2:1995 识别卡-非接触集成电路卡-近耦合卡 第2部分:耦合区域的尺寸和位置
检测项:接触式IC卡尺寸与位置 检测样品:集成电路(IC)卡 标准:1. GB/T 16649.2-2006 识别卡 带触点的集成电路卡 第2部分:触点的尺寸和位置 2. ISO/IEC 7816-2:2007 识别卡-带触点的集成电路卡- 第2部分:带触点卡片的尺寸和位置
检测项:非接触IC卡近耦合卡尺寸与位置 检测样品:集成电路(IC)卡 标准:ISO/IEC 10536-2:1995 识别卡-非接触集成电路卡-近耦合卡 第2部分:耦合区域的尺寸和位置