官方微信
您当前的位置:首页 > 低压电流适配器(DC输出)
眼压计产品描述:通常由角膜形状变化发生器、角膜变形测量系统或接触角膜装置和压变传感器组成。通过角膜形状变化(压平式、压陷式、非接触式等)或直接测量角膜血流脉动压力变化,换算获得眼内压。 眼压计预期用途:用于测量眼内压力。 眼压计品名举例:眼压计、非接触式眼压计、手持式眼压计、手持式压平眼压计、压平眼压计、接触式压电眼压计、回弹式眼压计、压陷式眼压计 ...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年04月27日
检测项:光伏阵列输出电流和电压值 检测样品:独立光伏 系统 标准:独立光伏系统-设计验证IEC 62124:2004
检测项:光伏阵列输出电流和电压值 检测样品:便携式太阳灯 标准:便携式太阳光伏灯设计鉴定和定型 PVRS 11A 2008-02
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出短路电流Ios 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
检测项:输入电流变化引起的输出改变量试验 检测样品:电力负荷管理终端 标准:DL/T 533-2007 《电力负荷管理终端》
检测项:工频电压耐受试验 检测样品:高压电器(包括断路器、隔离开关、负荷开关、熔断器) 标准:GB311.1-1997 《高压输变电设备的绝缘配合》 GB/T16927.1-1997 《高电压试验技术 第一部分:一般试验要求 》
检测项:输入电压变化引起的输出改变量试验 检测样品:电力负荷管理终端 标准:DL/T 533-2007 《电力负荷管理终端》
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:输出漏电流 检测样品:混合和固体延时继电器 标准:《混合和固体延时继电器总规范》 GJB1513A-2009
检测项:中等电流切换试验 检测样品:电子及电气元件 标准:《微电子器件试验方法》 GJB548B-2005
检测项:中等电流 检测样品:电磁继电器 标准:《电磁继电器通用规范》GJB1042A-2002
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:牺牲阳极 输出电流 检测样品:在役 埋地管道 标准:埋地钢质管道阴极保护参数测量方法GB/T21246-2007 6.2
检测项:牺牲阳极 输出电流 检测样品:在役 埋地管道 标准:埋地钢质管道阴极保护参数测量方法 GB/T21246-2007 6.2
检测项:管内电流 检测样品:在役 埋地管道 标准:埋地钢质管道阴极保护参数测量方法GB/T21246-2007 7.0
机构所在地:河北省廊坊市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项:高电平输出电流 检测样品:运算放大器 标准:SJ/T10738-1996半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:低电平输出电流 检测样品:运算放大器 标准:SJ/T10738-1996半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:输出短路电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输出高电平电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输出低电平电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项:输出高阻态电流 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输出电流 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996
检测项:输出高电平 电流 检测样品:二极管 标准:半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件试验方法GJB128A-1997
检测项:输出低电平 电流 检测样品:二极管 标准:半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件试验方法GJB128A-1997
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:电压波动和闪烁 检测样品:电工电子类产品(EMC) 标准:电磁兼容 限值 对每相额定电流不大于16A的设备在低压供电系统中产生的电压变化,电压波动与闪烁限值 GB 17625.2-2007 电磁兼容 限值 对每相额定电流不大于16A的设备在低压供电系统中产生的电压变化,电压波动与闪烁限值 IEC 6
检测项:电压变化、电压波动和闪烁 检测样品:电气照明和类似设备(EMC) 标准:电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制 GB 17625.2-2007 电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限
检测项:视频通道输出电平 检测样品:家庭影院用环绕声放大器 标准:家庭影院用环绕声放大器通用规范 SJ/T 11217-2000
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>