共发射极正向电流传输比检测实验

微生物比浊仪器

简介

微生物比浊仪器相关标准： 1、YY/T 0688.2-2010 临床实验室检测和体外诊断系统-感染病原体敏感性试验与抗菌剂敏感性试验设备的性能评价第2部分：抗菌剂敏感性试验设备的性能评价 2、YY/T 0656-2008 自动化血培养系统 3、YY/T 0688.1-2008 临床实验室检测和体外诊断系统感染病原体敏感性试验与抗菌剂敏感性试验设备的性能评价第1部分：...查看详情>>

微生物比浊仪器

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微生物比浊仪器相关标准：
1、YY/T 0688.2-2010 临床实验室检测和体外诊断系统-感染病原体敏感性试验与抗菌剂敏感性试验设备的性能评价第2部分：抗菌剂敏感性试验设备的性能评价
2、YY/T 0656-2008 自动化血培养系统
3、YY/T 0688.1-2008 临床实验室检测和体外诊断系统感染病原体敏感性试验与抗菌剂敏感性试验设备的性能评价第1部分：抗菌剂对感染性疾病相关的快速生长需氧菌的体外活性检测的参考方法

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武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：正向电流传输比HFE 检测样品：场效应管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994

检测项：电流传输比hF(ctr) 检测样品：光电耦合器标准：半导体分立器件和集成电路第5-2部分：光电子器件基本额定值和特性 GB/T 15651.2-2003

检测项：正向阈值电压下的输入电流检测样品：TTL电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996

机构所在地：湖北省武汉市更多相关信息>>

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中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：正向电流传输比HFE 检测样品：三端稳压电源（电压调整器）标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996

检测项：集电极-发射极截止电流ICEO 检测样品：三端稳压电源（电压调整器）标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996

检测项：发射极-基极截止电流IEBO 检测样品：三端稳压电源（电压调整器）标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996

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贵州航天计量测试技术研究所

检测项：正向电流传输比hFE 检测样品：晶体管标准：《半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管》GB/T 4587-1994 《半导体分立器件试验方法》GJB 128A-1997

检测项：电流传输比hF(ctr) 检测样品：光电耦合器标准：《半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件》GB/T 15651-1995 《半导体分立器件试验方法》GJB 128A-1997

检测项：集电极-发射极截止电流ICEO 检测样品：晶体管标准：《半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管》GB/T 4587-1994 《半导体分立器件试验方法》GJB 128A-1997

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湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：正向电流传输比HFE 检测样品：晶体管标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 半导体分立器件和集成电路第7部分：场效应晶体管 GB/T 4587-1994

检测项：发射极-基极截止电流IEBO 检测样品：晶体管标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 半导体分立器件和集成电路第7部分：场效应晶体管 GB/T 4587-1994

检测项：集电极-发射极截止电流ICEO 检测样品：晶体管标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 半导体分立器件和集成电路第7部分：场效应晶体管 GB/T 4587-1994

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成都凯天电子股份有限公司实验中心

检测项：电流传输比检测样品：电容器标准：半导体光耦合器直流电流传输比的测试方法 SJ2215.10-1982

检测项：正向压降检测样品：光耦合器标准：半导体光耦合器(二极管)反向电流的测试方法SJ2215.2-1982

检测项：集电极-发射极反向击穿电压检测样品：电容器标准：半导体光耦合器集电极—发射极反向击穿电压的测试方法SJ2215.7-1982

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中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：正向电流传输比检测样品：双极型晶体管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994 第Ⅳ章1.2、 4.1、 5.1、 1.9.6、 1.10.2条

检测项：正向电流传输比检测样品：双极型晶体管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994 第Ⅳ章1.2、 4.1、 5.1、 1.9.6、 1.10.2条

检测项：电流传输比检测样品：电容器标准：电子设备用固定电容器第1部分总规范 GB/T2693－2001 第4.5、4.6、4.7、4.8、4.9条

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西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：电流传输比检测样品：继电器标准：半导体光耦合器测试方法 SJ 2215.10-1982

检测项：正向栅源漏电流检测样品：晶闸管标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407

检测项：发射极-基极截止电流Iebo 检测样品：双极型晶体管标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3011

机构所在地：重庆市更多相关信息>>

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北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：电流传输比hF (ctr) 检测样品：晶闸管标准：GB∕T 15291-1994半导体器件第6部分：晶闸管

检测项：集电极-发射极截止电流ICEO 检测样品：双极型晶体管标准：GB/T4587-1994半导体分立器件和集成电路第七部分：双极型晶体管

检测项：发射极-基极截止电流IEBO 检测样品：双极型晶体管标准：GB/T4587-1994半导体分立器件和集成电路第七部分：双极型晶体管

机构所在地：北京市更多相关信息>>

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中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：电流传输比检测样品：二极管标准：半导体分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T4023-1997

检测项：正向电流检测样品：光耦标准：半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法GB/T15651.3-2003

检测项：正向压降检测样品：二极管标准：半导体分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T4023-1997

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陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：电流传输比（CTR）检测样品：电容器标准：电子设备用固定电容器第1部分：总规范 GB/T 2693-2001

检测项：发射极-基极截止电流（IEBO）检测样品：晶体管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T4587-94 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97

检测项：集电极-发射极截止电流（ICEO）检测样品：晶体管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T4587-94 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97

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