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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:内部短路预防 检测样品:锂电池/锂电芯 标准:CTIA对电池系统IEEE1725符合性的认证要求 Rev 2.1
检测项:内部短路预防 检测样品:锂电池/锂电芯 标准:CTIA对电池系统IEEE1725符合性的认证要求 Rev 2.5
检测项:强制放电 检测样品:锂电池/锂电芯 标准:CTIA对电池系统IEEE1725符合性的认证要求 Rev 2.1
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:冰箱内部材料及气味性试验 检测样品:冷藏冷冻箱 标准:家用制冷器具 冷藏冷冻箱 GB/T 8059.2-1995 ISO 8187:1991
检测项:冰箱内部材料及气味性试验 检测样品:冷冻箱 标准:家用制冷器具 冷冻箱 GB/T 8059.3-1995 ISO 5155:1995
检测项:冰箱内部材料及气味性试验 检测样品:家用电冰箱 标准:家用电冰箱电量限定值及能源效率等级 GB 12021.2-2008
机构所在地:山东省青岛市 更多相关信息>>
检测项:难燃性 检测样品:建筑材料、室内装修(饰)材料及制品 标准:建筑内部装修设计防火规范GB 50222-1995(2001)
检测项:气密性能 检测样品:建筑幕墙 标准:软体家具防火试验的标准试验方法 ASTM E 1537-2002 公共场所用座椅易燃性试验方法 TB 133 1991 座椅类家具 测试方法 BS 5852:2006
检测项: 检测样品: 标准:软体家具防火试验的标准试验方法 ASTM E 1537-2002 公共场所用座椅易燃性试验方法 TB 133 1991 座椅类家具 测试方法 BS 5852:2006 建筑材料及制品燃烧性能分级GB 8624-2012
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输入偏置电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:开环电压增益 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:电压调整率 检测样品:TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996
检测项:电流调整率 检测样品:TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996
检测项:消耗电流 检测样品:TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:输入低电平电压VIL 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输入正向阈值电压VIT+ 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电流 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输入偏置电流 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:开环电压增益 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项:电源电流 检测样品:ECL电路 标准:SJ/T10737-1996半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理
检测项:输出高电平电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出高电平阈值电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输入偏置电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:开环电压增益 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项:功能测试棋盘格 检测样品:半导体集成电路MOS随机存储器 标准:GB/T 17574-1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》
检测项:功能测试步进 检测样品:半导体集成电路MOS随机存储器 标准:GB/T 17574-1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》
检测项:功能测试全0全1 检测样品:半导体集成电路MOS随机存储器 标准:GB/T 17574-1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》