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检测项:温度循环 检测样品:集成电路筛选 标准:GJB548B--2005微电子器件试验方法和程序
检测项:温度循环 检测样品:分立器件筛选 标准:GJB128A-1997半导体分立器件试验方法
检测项:温度冲击试验 检测样品:电阻器 标准:GJB360A-1996电子及电气元件测试方法
机构所在地:江苏省南京市
检测项:磁干扰 检测样品:电磁继电器 标准:GJB65B-1999有可靠性指标的电磁继电器总规范4.8.14
检测项:线圈寿命 检测样品:电磁继电器 标准:GJB65B-1999有可靠性指标的电磁继电器总规范4.8.15
检测项:低温低气压 检测样品: 标准:GJB1217-1991电连接器试验方法中方法1011
机构所在地:安徽省蚌埠市