存储温度检测实验

脆化温度

简介

脆化温度(Brittletemperature) 聚合物低温性能的一种量度，以具有一定能量的冲锤冲击试样时，当试样开裂概率达到50％时的温度，称为脆化温度，也叫脆折点。脆化温度测试方法：冲击法脆化温度测试仪器：脆化温度测试仪查看详情>>

脆化温度

简介

脆化温度(Brittletemperature)

聚合物低温性能的一种量度，以具有一定能量的冲锤冲击试样时，当试样开裂概率达到50％时的温度，称为脆化温度，也叫脆折点。

脆化温度测试方法：冲击法

脆化温度测试仪器：脆化温度测试仪

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收起百科↑ 最近更新：2017年04月13日

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检测项：自由跌落试验检测样品：移动存储闪存盘标准：信息技术移动存储闪存盘通用规范 GB/T 26225-2010

检测项：冲击试验检测样品：移动存储闪存盘标准：信息技术移动存储闪存盘通用规范 GB/T 26225-2010

检测项：湿热试验检测样品：移动存储闪存盘标准：信息技术移动存储闪存盘通用规范 GB/T 26225-2010

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贵州航天计量测试技术研究所

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：存储器标准：《半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理》SJ/T 10739-1996

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上海精密计量测试研究所

检测项：采样-保持失调电压VOS 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器标准：SJ/T10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理

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公安部第三研究所安全防范与信息安全产品及系统检验实验室

检测项：全部项目* 检测样品：电子数据存储介质复制工具标准：《电子数据存储介质复制工具要求及检测方法》 GA/T 754-2008

检测项：全部项目* 检测样品：电子数据存储介质写保护设备标准：《电子数据存储介质写保护设备要求及检测方法》 GA/T 755-2008

检测项：全部项目** 检测样品：USB移动存储介质管理系统标准：《信息安全技术 USB移动存储介质管理系统安全技术要求》 GA/T 987-2012

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湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：静态参数检测样品：MOS随机存储器标准：半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T 10739-1996

检测项：动态参数检测样品：MOS随机存储器标准：半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T 10739-1996

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国家广播电影电视总局电影技术质量检测所

检测项：存储方式及存储容量检测样品：数字电影放映系统标准：《数字影院暂行技术要求》GD/J 017—2007

检测项：存储安全检测样品：数字电影放映系统标准：《数字影院暂行技术要求》GD/J 017—2007

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爱斯佩克测试科技（上海）有限公司

检测项：高温存储寿命试验检测样品：电子器件标准：高温存储寿命试验 JESD22-A103D:2010

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福建省产品质量检验研究院

检测项：存储与备份存储功能检测样品：银行安全防范报警监控联网系统标准：银行安全防范报警监控联网系统技术要求 GB/T16676-2010

检测项：全部项目检测样品：非接触式给水器具标准：电子测量仪器温度试验 GB 6587.2-1986

检测项：全部项目检测样品：电阻器标准：直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器第1部分: 总规范 GB/T 7153-2002 IEC 60738-1:1998

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北京东方计量测试研究所

检测项：数据存储与备份检测样品：量块标准：GB/T 6093–2001 几何量技术规范（GPS）长度标准量块

检测项：电压幅度检测样品：数字示波器标准：GB/T 15289-1994 数字存储示波器通用技术条件和测试方法

检测项：频响检测样品：数字示波器标准：GB/T 15289-1994 数字存储示波器通用技术条件和测试方法

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北京银联金卡科技有限公司/银行卡检测中心

检测项：敏感信息存储安全性测试检测样品：IC 卡安全标准：

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检测项：敏感信息存储检测样品：支付系统标准：

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