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检测项:微分电阻 检测样品:分立器件 筛选 标准:半导体分立器件试验方法GJB128A-1997
检测项:开环电压增益 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地:甘肃省兰州市
检测项:前置予处理机增益;多路前置予处理器增益一致性 检测样品:声纳设备 标准:声纳通用规范 GJB22A-1999
检测项:时变增益(TVG)控制范围 检测样品:声纳设备 标准:声纳通用规范 GJB22A-1999
检测项:自动增益控制(AGC)范围 检测样品:声纳设备 标准:声纳通用规范 GJB22A-1999
机构所在地:浙江省杭州市