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光学相干断层扫描仪产品描述:通常由光学相干系统、数据获取处理和/或分析系统组成。利用光学相干成像原理,获取组织断层面的信息。 光学相干断层扫描仪预期用途: 用于获取组织断层面的信息。 光学相干断层扫描仪品名举例:眼科光学相干断层扫描仪 光学相干断层扫描仪管理类别:Ⅱ 光学相干断层扫描仪相关指导原则: 1、眼科光学相干断层扫描仪注册...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年04月23日
检测项:比表面积 检测样品:塑料 标准:《分析型扫描电子显微镜方法通则》 JY/T 010-1996
检测项:热分析 检测样品:塑料 标准:《分析型扫描电子显微镜方法通则》 JY/T 010-1996
检测项:微区形貌 分析 检测样品:材料微区 分析 标准:《透射电子显微镜方法通则》JY/T 011-1996
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:镀层厚度 检测样品:金属材料 标准:通过用扫描电子显微镜测量横截面来测量金属涂层厚度的试验方法 ASTM B748-90(2010)
检测项:密度 检测样品:钢铁及合金 标准:分析型扫描电子显微镜方法通则 JY/T 010-1996
检测项:镀层厚度 检测样品:金属材料 标准:微米级长度的扫描电镜测量方法通则 GB/T 16594-2008
检测项:微观结构及组分 检测样品:岩石 标准:SY/T 5162-1997 岩石样品扫描电子显微镜分析方法
机构所在地:天津市 更多相关信息>>
检测项:表面形貌 检测样品: 标准:分析型扫描电子显微镜方法通则 JY/T 010-1996
检测项:扫描电镜测镀层厚度 检测样品: 标准:金属履盖层横截面厚度扫描电镜测量方法 JB/T 7503-94
检测项:微米级长度测量 检测样品: 标准:微米级长度的扫描电镜测量方法通则 GB/T 16594-2008
检测项:结构、形貌分析 检测样品:岩石 标准:岩石样品扫描电子显微镜分析方法 SY/T 5162-1997(2005)
机构所在地:浙江省杭州市 更多相关信息>>
检测项:破坏性物理分析 检测样品:半导体分立器件、集成电路、光电器件 标准:《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB4027A-2006
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:硅(Si)、锰(Mn)、磷(P)、镍(Ni)、铬(Cr)、钼(Mo)、铜(Cu)、钒(V)、钴(Co)、钛(Ti)、铝(Al) 检测样品:金属材料化学成份 标准:分析型扫描电子显微镜方法通则 JY/T 010-1996
检测项:能谱分析 检测样品:金属材料化学成份 标准:束分析 能谱法定量分析 GB/T 17359-2012
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:扫描电子显微镜检查 检测样品:微电子器件 标准:GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 微电子器件试验方法和程序
检测项:元素分析 检测样品:铜、铝导体残留物 标准:刑事技术微量物证的理化检验 第6部分:扫描电子显微镜/X射线能谱法GB/T19267.6-2008
检测项:微观形貌 检测样品:铜、铝导体残留物 标准:刑事技术微量物证的理化检验 第6部分:扫描电子显微镜/X射线能谱法GB/T19267.6-2008
检测项:SEM形貌分析 检测样品:LED器件 标准:分析型扫描电子显微镜方法通则 JY/T 010-1996
机构所在地:广东省佛山市 更多相关信息>>