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光学相干断层扫描仪产品描述:通常由光学相干系统、数据获取处理和/或分析系统组成。利用光学相干成像原理,获取组织断层面的信息。 光学相干断层扫描仪预期用途: 用于获取组织断层面的信息。 光学相干断层扫描仪品名举例:眼科光学相干断层扫描仪 光学相干断层扫描仪管理类别:Ⅱ 光学相干断层扫描仪相关指导原则: 1、眼科光学相干断层扫描仪注册...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年04月23日
检测项:光学传递函数 检测样品:光学系统 标准:GB/T 4315.2-2009 《光学传递函数测量导则》
检测项:相对孔径 检测样品:光学系统 标准:GB/T 11168-2009 《光学系统像质测试方法》
检测项:星点检测 检测样品:光学系统 标准:GB/T 11168-2009 《光学系统像质测试方法》
机构所在地:吉林省长春市
检测项:发射极-基极截止电流 检测样品:场效应管 标准:GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管
检测项:集电极-发射极截止电流 检测样品:场效应管 标准:GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管
检测项:集电极-发射极饱和电压 检测样品:场效应管 标准:GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管
机构所在地:江苏省连云港市
检测项:发射极—基极击穿电压 检测样品:场效应管 标准:《半导体器件 分立器件第8部分:场效应晶体管》GB/T4586-1994
检测项:集电极—发射极维持电压 检测样品:场效应管 标准:《半导体器件 分立器件第8部分:场效应晶体管》GB/T4586-1994
检测项:共发射极正向电流传输比 检测样品:场效应管 标准:《半导体器件 分立器件第8部分:场效应晶体管》GB/T4586-1994
机构所在地:江苏省扬州市