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收起百科↑ 最近更新：2023年06月05日
检测项：电源电流 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
检测项：输出高电平时电源电流 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
检测项：输出低电平时电源电流 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项：阈值电流IT 检测样品：电压比较器 标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》SJ/T 10805-2000
检测项：静态电源电流ID 检测样品：电压比较器 标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》SJ/T 10805-2000
检测项：截止态漏极漏电流ID 检测样品：V/F、F/V转换器 标准：《半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器》 GB/T 14114-1993
机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项：输入失调电流IIO 检测样品：三端稳压电源（电压调整器） 标准：GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项：输入偏置电流IIb 检测样品：三端稳压电源（电压调整器） 标准：GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项：最大输出电流IDM 检测样品：三端稳压电源（电压调整器） 标准：GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
检测项：电源电流IEE 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
检测项：过电压保护电气特性 检测样品：总配线架保安单元 标准：中国网通《集成电路过电压过电流保安单元总体要求》
检测项：过电流保护限流特性 检测样品：射频连接器 标准：YD/T 1329-2004通信设备过电压过电流保护用集成电路型保安单元
检测项：保安单元 检测样品：总配线架保安单元 标准：中国网通《集成电路过电压过电流保安单元总体要求》
检测项：截止态漏极漏电流 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
检测项：导通态漏电流 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
检测项：截止态源极漏电流 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>
检测项：输入高电平 电流 检测样品：运算(电压)放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项：输入低电平 电流 检测样品：运算(电压)放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项：输出高电平 电流 检测样品：运算(电压)放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
机构所在地：重庆市 更多相关信息>>
检测项：输入失调电流IIO 检测样品：电压比较器 标准：GB/T 6798－1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
检测项：输入偏置电流IIB 检测样品：电压比较器 标准：GB/T 6798－1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
检测项：高电平输出电流IOH 检测样品：电压比较器 标准：GB/T 6798－1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：输出电流调整率 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996
机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项：输入偏置电流 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996
检测项：输入失调电流 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996
检测项：输出电流 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996
骨填充及修复材料相关指导原则：
