电子静态照相机检测实验

眼底照相机

简介

眼底照相机

简介

眼底照相机产品描述：通常由照明系统、观察系统、成像系统等组成。可与单独的查看软件配合使用，并实现附加功能。

眼底照相机预期用途：用于拍摄眼部图像，观察和诊断视网膜病变。

眼底照相机品名举例：眼底照相机、数字眼底照相机、免散瞳眼底照相机、免散瞳数码眼底照相机、手持式视网膜照相机、无散瞳数码眼底照相机、手持式免散瞳眼底照相机、眼底摄影机、眼用照相机

眼底照相机管理类别：Ⅱ

眼底照相机相关指导原则：
1、眼底照相机注册技术审查指导原则

眼底照相机相关标准：
1、YY/T 1154-2009 激光共聚焦扫描仪
2、YY/T 0065-2016 眼科仪器裂隙灯显微镜
3、YY 1296-2016 光学和光子学手术显微镜眼科用手术显微镜的光危害

眼底照相机相关检测项目：
1 . 通用要求《眼科仪器眼底照相机： YY 0634-2008(ISO 10940:1998,MOD)》
2 . 光学要求《眼科仪器眼底照相机： YY 0634-2008(ISO 10940:1998,MOD)》
3 . 一般要求《眼科仪器眼底照相机： YY 0634-2008(ISO 10940:1998,MOD)》
4 . 高眼点目镜《眼科仪器眼底照相机： YY 0634-2008(ISO 10940:1998,MOD)》
5 . 可调亮度《眼科仪器眼底照相机： YY 0634-2008(ISO 10940:1998,MOD)》
6 . 专用信息《眼科仪器眼底照相机： YY 0634-2008(ISO 10940:1998,MOD)》
7 . 清洗、消毒或灭菌措施《眼科仪器眼底照相机： YY 0634-2008(ISO 10940:1998,MOD)》
8 . 环境条件《眼科仪器眼底照相机： YY 0634-2008(ISO 10940:1998,MOD)》
9 . 电气安全要求《眼科仪器眼底照相机： YY 0634-2008(ISO 10940:1998,MOD)》

收起百科↑ 最近更新：2023年04月23日

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中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：静态功耗检测样品：时基电路标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992

检测项：静态电流检测样品：光电器件标准：《半导体器件分立器件和集成电路第5部分-3 光电子器件测试方法》GB/T15651.3-2003

检测项：静态电流变化检测样品：光电器件标准：《半导体器件分立器件和集成电路第5部分-3 光电子器件测试方法》GB/T15651.3-2003

机构所在地：江苏省扬州市更多相关信息>>

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中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：静态分辨力带宽检测样品：功率放大器标准：GJB3258-1998通信干扰功率放大器通用规范

检测项：输出低电平电流IOL 检测样品：微电子器件标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：电源电流IDD 检测样品：微电子器件标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

机构所在地：河南省郑州市更多相关信息>>

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中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：静态电源电流检测样品：混合集成电路标准：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 GB/T8976-1996

检测项：V/F静态电源电流检测样品：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器标准：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理　GB/T14114-1993

检测项：F/V静态电源电流检测样品：集成电路A/D和D/A转换器标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ20961-2006

机构所在地：重庆市更多相关信息>>

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湖南省电子产品检测分析所/中国赛宝（湖南）实验室/湖南省软件评测中心

检测项：静态功耗检测样品：车辆防盗报警系统标准：车辆防盗报警系统小客车 GA 2-1999

检测项：电源适应能力检测样品：音频、视频及类似电子设备※ 标准：音频、视频及类似电子设备安全要求 GB 8898-2001

检测项：安全试验检测样品：音频、视频及类似电子设备※ 标准：音频、视频及类似电子设备安全要求 GB 8898-2001

机构所在地：湖南省长沙市更多相关信息>>

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西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：静态功耗检测样品：电子元器件标准：微电路试验方法和程序GJB 548B-2005

检测项：静态功耗检测样品：时基电路标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992

检测项：粒子碰撞噪声检测试验检测样品：电子元器件标准：电子及电气元件试验方法 GJB 360A－1996 方法 212 Y1

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中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：25℃下的静态试验检测样品：半导体集成电路标准：强加速温度和湿度应力测试 JESD22-A110D-2010

检测项：25℃下的静态试验检测样品：半导体集成电路标准：半导体机械和气候试验方法GB/T4937-1995 方法5b

检测项：最高额定工作温度下的静态试验检测样品：半导体集成电路标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996　微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005　微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006

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中国电子科技集团公司第21研究所微特电机产品质量监督检验中心

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云南昆船电子设备有限公司蓝海综合实验中心

检测项：静态功耗检测样品：TTL电路标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输出高电平电压检测样品：电子产品、军用装备标准：GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验 Fc：振动（正弦）

检测项：输出低电平电压检测样品：电子产品、军用装备标准：GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验 Fc：振动（正弦）

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娄底市产商品质量监督检验所

检测项：压缩强度检测样品：电子陶瓷材料及制品标准：压电陶瓷材料性能测试方法静态弯曲强度的测试 GB/T 11387-2008

检测项：氧化钾检测样品：电子电气产品标准：电子电气产品六种限用物质（铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯和多溴二苯醚）的测定 GB/T 26125-2011 电子信息产品中有毒有害物质的检测方法 SJ/T

检测项：氧化钠检测样品：电子电气产品标准：电子电气产品六种限用物质（铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯和多溴二苯醚）的测定 GB/T 26125-2011 电子信息产品中有毒有害物质的检测方法 SJ/T

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中国电子科技集团公司第四十研究所质量监督检验中心

检测项：静态接触电阻检测样品：真空继电器标准：GJB1436-1992干簧继电器总规范4.6.12

检测项：温升检测样品：电子设备用键盘开关标准：GB/T9536-1995电子设备用机电开关4.6.1

检测项：电寿命检测样品：电子设备用键盘开关标准：GB/T9536-1995电子设备用机电开关4.10

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简介

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