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半导体 集成电路中25℃下的 静态试验检测

  • 样品名称:半导体 集成电路

  • 检测项目:25℃下的 静态试验

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:强加速温度和湿度应力测试 JESD22-A110D-2010

  • 所属行业分类:

  • 标签: 25℃下的 静态试验 半导体 集成电路

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