深圳市中检南方检测有限公司

检测项：操作频率 范围 检测样品：1G至40G短距离无线发射设备 标准：电磁兼容及频谱限值：1G至40G短距离无线射频设备的技术要求和测试方法 EN300440-1 V1.6.1 (2010-08)

检测项：辐射杂散 检测样品：1G至40G短距离无线发射设备 标准：电磁兼容及频谱限值：1G至40G短距离无线射频设备的技术要求和测试方法 EN300440-1 V1.6.1 (2010-08)

检测项：占空比 检测样品：1G至40G短距离无线发射设备 标准：电磁兼容及频谱限值：1G至40G短距离无线射频设备的技术要求和测试方法 EN300440-1 V1.6.1 (2010-08)

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

东莞市亚勖电子科技有限公司

检测项：电源端子骚扰电压 检测样品：1G至40G短距离无线发射 设备 标准：电磁兼容及频谱限值：1G至40G短距离无线射频设备的技术要求和测试方法 EN300440-1 V1.6.1 (2010-08)

检测项：辐射骚扰 检测样品：1G至40G短距离无线发射 设备 标准：电磁兼容及频谱限值：1G至40G短距离无线射频设备的技术要求和测试方法 EN300440-1 V1.6.1 (2010-08)

检测项：EIRP有效辐射功率 检测样品：1G至40G短距离无线发射 设备 标准：电磁兼容及频谱限值：1G至40G短距离无线射频设备的技术要求和测试方法 EN300440-1 V1.6.1 (2010-08)

机构所在地：广东省东莞市 更多相关信息>>

东莞市信测科技有限公司

检测项：偶氮染料 检测样品：纺织品 标准：BS EN14362-1:2003/AC:2005 纺织品- 源至特定偶氮染料的芳香胺含量测试.第一部分：无需萃取的特定偶氮染料的测定 LFGB §64 BVL B 82.02-2 纺织品中源至特定偶氮染料

检测项：偶氮染料 检测样品：纺织品 标准：BS EN14362-2:2003/AC:2005纺织品- 源至特定偶氮染料的芳香胺含量测试.第二部分：经过萃取的特定偶氮染料的测定 LFGB §64 BVL B 82.02-4纺织品

机构所在地：广东省东莞市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七二四研究所计量测试中心

检测项：反向电流 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T6571-1995 半导体器件分立器件第3部分 信号（包括开关）和调整二极管 第Ⅳ章第1节1条 第Ⅳ章第1节2条

检测项：反向电流 检测样品：耦合器 标准：GB/T6571-1995 半导体器件分立器件第3部分 信号（包括开关）和调整二极管 第Ⅳ章第1节1条 第Ⅳ章第1节2条

检测项：反向电流 检测样品：二极管 标准：GB/T6571-1995　半导体器件分立器件第3部分 信号（包括开关）和调整二极管 第Ⅳ章第1节1条 第Ⅳ章第1节2条 第Ⅳ章第2节2.1条 第Ⅳ章第2节2.2条

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：反向电流 检测样品：电阻器 标准：GB/T5729-2003电子设备用固定电阻器 第一部分：总规范

检测项：反向电压 检测样品：电阻器 标准：GB/T5729-2003电子设备用固定电阻器 第一部分：总规范

检测项：反向电流 检测样品：电阻器 标准：GB/T5729-2003《电子设备用固定电阻器 第一部分：总规范》

机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输入二极管反向电流 检测样品：双极型晶体管 标准：《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管》GB/T4587-1994

检测项：反向漏电流 检测样品：电阻器 标准：《电子设备用固定电阻器第一部分:总规范》GB/T5729-2003

检测项：反向击穿电压 检测样品：电阻器 标准：《电子设备用固定电阻器第一部分:总规范》GB/T5729-2003

机构所在地：江苏省扬州市 更多相关信息>>

天津市市政工程质量检测中心

检测项：部分参数 检测样品：钢筋混凝土用热轧带肋钢筋 标准：《钢筋混凝土用钢 第2部分：热轧带肋钢筋》GB1499.2-2007/XG1-2009

机构所在地：天津市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：反向电流IR 检测样品：二极管 标准：半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管GB/T6571-1995

检测项：反向电压VR 检测样品：二极管 标准：半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管GB/T6571-1995

检测项：输出信号频率的 性能测试 检测样品：信号发生器 标准：GB12180-1990低频信号发生器通用测试方法SJ/T10472～10473-1994函数信号发生器技术条件和测试方法

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：反向漏电流 检测样品：二极管 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997方法4011

检测项：反向漏电流 检测样品：二极管 标准：半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995半导体器件Ⅳ章1.1条

检测项：反向击穿电压 检测样品：双极型 晶体管 标准：半导体器件 分立器件 第2部分:整流二极管GB/T4023-1997Ⅳ篇1.3

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

中国科学院长春光学精密机械与物理研究所质检中心

检测项：反向电压 检测样品：发光二极管（LED） 标准：SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》

检测项：反向电流 检测样品：发光二极管（LED） 标准：SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》

检测项：测温准确度 检测样品：红外热像仪 标准：GB/T 19870-2005 《工业检测型红外热像仪》

机构所在地：吉林省长春市 更多相关信息>>