官方微信
您当前的位置：首页 > 线性输入电平
检测项：电磁兼容限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A） 检测样品：电气和电子设备(EMC) 标准：电磁兼容限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A）
机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项：操纵稳定性 检测样品：汽车 标准：汽车操纵稳定性试验方法 蛇行试验 GB/T 6323.1-1994 汽车操纵稳定性试验方法 转向瞬态响应试验(转向盘转角阶跃输入) GB/T 6323.2-1994 汽车操纵稳定性试验方法 转向瞬态响应试验（转向盘转角脉冲输入） GB/T 6323.
机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项：谐波电流发射 检测样品：每相输入电流≤16A的产品 标准：电磁兼容 限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A） GB 17625.1-2012 EN 61000-3-2：2006+A1：2009+A2：2009
检测项：灯输入 检测样品：自整流LED灯泡 标准：电压>50V的普通照明用LED灯泡-性能标准 IEC 62612:2013
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：*等电平远端串扰 检测样品：光纤 标准：光纤试验方法规范第20部分：尺寸参数的试验方法和试验程序——光纤几何参数GB/T15972.20-2008 光纤第1-20部分：试验方法和试验程序—光纤几何参数IEC60793-1-20:2001
检测项：*功率和等电平远端串扰 检测样品：光纤 标准：光纤试验方法规范第20部分：尺寸参数的试验方法和试验程序——光纤几何参数GB/T15972.20-2008 光纤第1-20部分：试验方法和试验程序—光纤几何参数IEC60793-1-20:2001
检测项：电源接口 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备的安全 GB 4943-2001
检测项：标记和说明 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备的安全 GB 4943-2001
检测项：电气间隙、爬电距离和绝缘穿透距离 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备的安全 GB 4943-2001
机构所在地：江苏省常州市 更多相关信息>>
检测项：连接接口 检测样品：移动通信手持机充电器 标准：移动通信手持机充电器及接口技术要求和试验方法 YD/T1591-2009
检测项：外观、包装和装配 检测样品：GSM数字移动终端（含手持机、车载终端和其他终端设备） 标准：3GPP 用户设备/移动台空口天线性能 一致性测试 3GPP TS34.114 V8.1.0(200904)
检测项：交流输入电压 检测样品：移动通信手持机充电器 标准：移动通信手持机锂电池充电器的安全要求和试验方法 YD1268.2-2003
机构所在地：福建省厦门市 更多相关信息>>
检测项：接收截止电平 检测样品：车载单元（OBU） 标准：ETSI EN 300 674-1 V1.2.1 (2004-08) 电磁兼容性和无线电频谱事宜（ERM）；道路运输和交通信息处理（RTTT）；工作在5.8 GHz工业、科学经营和医疗（ISM）频段中的专用短程通信（DSRC）传输设备（500 kbi
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：26爬电距离、电气间隙和贯通绝缘距离 检测样品：欧洲2.5A两极插头 标准：EN 50075：1990 家用和类似用途Ⅱ类设备连接用带软线的2.5A、250V不可拆线双极扁平插头规范
检测项：待机/关机输入功率 检测样品：复印机 标准：欧洲能效ERP要求 (EC) No 1275/2008
检测项：7.1输入功率 检测样品：医用电气设备 标准：医用电气设备 第1部分：安全通用要求 GB 9706.1: 2007
检测项：低电平 检测样品：继电器、接触器（含可靠性指标） 标准：含可靠性指标的电磁继电器总规范GJB1461-1992 电子及电气元件试验方法GJB360B-2009 军用设备环境实验方法湿热试验GJB150.9-1986
机构所在地：贵州省遵义市 更多相关信息>>
检测项：输出高电平 电压 检测样品：二极管 标准：半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件试验方法GJB128A-1997
检测项：输出低电平 电压 检测样品：二极管 标准：半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件试验方法GJB128A-1997
检测项：输出高电平 电流 检测样品：二极管 标准：半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件试验方法GJB128A-1997
机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>
