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检测项:维持电流 检测样品:光耦合器 标准:半导体光耦合器(二极管)正向压降的测试方法 SJ 2215.2-1982
检测项:栅极漏泄电流 检测样品:晶闸管 标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407
机构所在地:四川省成都市
检测项:维持电流 检测样品:三端稳压电源(电压调整器) 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
检测项:粒子碰撞噪声检测试验 检测样品:电子元器件 标准:微电路试验方法和程序 GJB 548B—2005
机构所在地:四川省成都市
检测项:反向截止电流ICEO 检测样品:晶闸管 标准:GB∕T 15291-1994半导体器件 第6部分:晶闸管
检测项:反向漏电流Ir 检测样品:晶闸管 标准:GB∕T 15291-1994半导体器件 第6部分:晶闸管
机构所在地:北京市
检测项:光通维持率 检测样品:LED光源 标准:《LED光源光通维持率的测量》IES LM-80-08
检测项:光束角 检测样品:LED光源 标准:《LED光源光通维持率的测量》IES LM-80-08
机构所在地:广东省深圳市