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眼压计产品描述:通常由角膜形状变化发生器、角膜变形测量系统或接触角膜装置和压变传感器组成。通过角膜形状变化(压平式、压陷式、非接触式等)或直接测量角膜血流脉动压力变化,换算获得眼内压。 眼压计预期用途:用于测量眼内压力。 眼压计品名举例:眼压计、非接触式眼压计、手持式眼压计、手持式压平眼压计、压平眼压计、接触式压电眼压计、回弹式眼压计、压陷式眼压计 ...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年04月27日
检测项:输出高电平电压 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输出低电平电压 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输出高电平电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
检测项:输出低电平电压 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992
检测项:输出低电平电压 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992
检测项:ADC数字输出高电平、数字输出低电平电压 检测样品:集成电路A/D和D/A转换器 标准:集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:输出低电平电压 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G 方法3006.1
检测项:输出高电平电压 检测样品:电子元器件 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.7条
检测项:输出低电平电压 检测样品:电子元器件 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000 第5.8条
机构所在地:江苏省无锡市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出高电平阈值电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出低电平电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:门限电压 检测样品:逻辑分析仪 标准:逻辑分析仪通用技术条件和测试方法 GB/T 15471-1995
检测项:相位差 检测样品:逻辑分析仪 标准:逻辑分析仪通用技术条件和测试方法 GB/T 15471-1995
机构所在地:江苏省昆山市 更多相关信息>>
检测项:输出特性 检测样品:冲击电压 测试仪 标准:《低压电器冲击电压试 验仪》JB/T7083-1993
检测项:峰值电压 检测样品:冲击电压 测试仪 标准:《低压电器冲击电压试 验仪》JB/T7083-1993
检测项:模糊误差 检测样品:冲击电压 测试仪 标准:《低压电器冲击电压试 验仪》JB/T7083-1993
机构所在地:浙江省乐清市 更多相关信息>>
检测项:电压波动闪烁测试 检测样品:并网逆变电源 标准:连接主动和被动用户到低压电器的参考技术规则 CEI 0-21:2012
检测项:过/欠压测试 检测样品:并网逆变电源 标准:连接主动和被动用户到低压电器的参考技术规则 CEI 0-21:2012
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输出电压 检测样品:交流稳压电源 标准:交流稳压(稳频)电源 JB/T 7397-1994
检测项:输出频率 检测样品:直流稳压电源 标准:测量用直流稳压电源装置JB/T 9303-1999
机构所在地:福建省厦门市 更多相关信息>>
检测项:额定输出电压偏离值 检测样品:移动通信直流稳压电源 标准:GB/T 13722-1992 移动通信电源技术要求和试验方法
检测项:额定输出电流偏离值 检测样品:移动通信直流稳压电源 标准:GB/T 13722-1992 移动通信电源技术要求和试验方法
检测项:电压驻波比 检测样品:移动通信直流稳压电源 标准:GB/T 13722-1992 移动通信电源技术要求和试验方法
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>