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检测项:正向电压VF 检测样品:二极管 标准:《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997
检测项:反向漏电流IR 检测样品:晶体管 标准:《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997
检测项:晶体管集电极-发射极击穿电压V(BR)CEX 检测样品:晶体管 标准:《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997
机构所在地:陕西省咸阳市 更多相关信息>>
检测项:X、γ射线外照射剂量 检测样品:职业外照射个人剂量 标准:《职业外照射个人检测规范》GBZ128-2002
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:放射工作人员外照射X、γ射线个人剂量 检测样品:职业性外照射个人剂量 标准:职业性外照射个人监测规范 GBZ128-2002
机构所在地:山东省青岛市 更多相关信息>>
检测项:X.γ外照射个人剂量检测 检测样品:个人剂量 标准:职业性外照射个人监测规范GBZ128-2002
机构所在地:河南省郑州市 更多相关信息>>
检测项:内部检查 检测样品:电子元器件 标准:GJB 128A-1997《 半导体分立器件试验方法》
检测项:扫描电子显微镜(SEM)检查 检测样品:电子元器件 标准:GJB 128A-1997《 半导体分立器件试验方法》
检测项:元素分析 检测样品:电子元器件 标准:GJB 128A-1997《 半导体分立器件试验方法》
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:老炼试验 检测样品:电子元器件 标准:半导体分立器件试验方法GJB128A-1997 方法2052
检测项:正向电压 检测样品:二极管 标准:半导体分立器件试验方法GJB128A-1997方法4011
检测项:栅极漏泄电流 检测样品:晶闸管 标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407
检测项:高温寿命试验 检测样品:半导体分立器件 标准:《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997
检测项:密封试验 检测样品:半导体分立器件 标准:《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997
检测项:微粒碰撞噪声检测 检测样品:半导体分立器件 标准:《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:x、γ、β、中子外照射剂量 检测样品:个人外照射剂量 标准:职业性外照射个人检测规范 GBZ128-2002
检测项:个人职业外照射监测 检测样品:辐射防护 标准:职业性外照射个人监测规范 GBZ 128-2002
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:剥离强度 检测样品:电子元器件及设备 气候试验 标准:1、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法
检测项:热冲击(液体-液体) 检测样品:电子元器件及设备 气候试验 标准:1、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法
检测项:间歇寿命 检测样品:电子元器件及设备 机械性能试验 标准:1、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法
机构所在地:河北省石家庄市 更多相关信息>>