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检测项：26dB频谱带宽 检测样品：无线电通讯设备（5GHz高性能数据传输设备） 标准：低压电子和电子设备在9 kHz到40 GHz范围内的美国国家标准 无线电噪音发射测试方法： ANSI C63.4 (2009) with FCC PART 15 SUBPART E
检测项：占用带宽 检测样品：无线电通讯设备（短距离无线设备） 标准：台湾低电压功率产品测试 NCC LP0002:100-6
检测项：占用带宽 检测样品：无线电通讯设备（5GHz高性能传输设备） 标准：宽带无线电通入网络（BRAN）；5GHz高性能RLAN；含R&TTE 指令3.2条款主要要求的EN协调标准 EN301893 V1.7.1 (2012)
机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项：发射输出频谱——20dB带宽 检测样品：射频识别（RFID）设备 标准：信部无【2007】205号 《关于发布800/900MHz频段射频识别（RFID）技术应用试行规定的通知》 ETSI EN 302 208-1-2-2011 V1.4.1 (2011-11) 《电磁兼容性与无线频谱特
检测项：占用带宽 检测样品： 标准：
检测项：占用带宽 检测样品：CDMA数字移动台 标准：YDC 015-2006 《800MHz CDMA1X数字蜂窝移动通信网设备技术要求：移动台》 YDC 023-2006 《800MHz CDMA1X数字蜂窝移动通信网设备测试方法：移动台 第一部分 基本无线指标、功能和性能》》
机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>
检测项：交变湿热试验 检测样品：电器 标准：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Db：交变湿热（12h+12h循环） GB/T 2423.4-2008
检测项：恒定湿热（元件加速试验）试验 检测样品： 标准：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Cy：恒定湿热主要用于元件的加速试验 GB/T 2423.50-1999
检测项：温度变化 检测样品：电器 标准：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化 GB/T 2423.22-2002
机构所在地：重庆市 更多相关信息>>
检测项：部分项目 检测样品：通信用光纤 标准：接入网用50/125μm多模渐变折射率光纤光缆的特性 ITU-T G.651.1-2007+A1:2008
检测项：全部项目 检测样品：射频电缆 标准：SYWY-50-3-51、SYWY-50-3-52、SYWYZ-50-3-51、SYWYZ-50-3-52、SYWRZ-50-3-51、SYWRZ-50-3-52型物理发泡聚乙烯绝缘柔软同轴电缆详细规范SJ 50973/22-2006
检测项：全部项目 检测样品：射频电缆 标准：SYWY-50-4-51、SYWY-50-4-52、SYWYZ-50-4-51、SYWYZ-50-4-52、SYWRZ-50-4-51、SYWRZ-50-4-52型物理发泡聚乙烯绝缘柔软同轴电缆详细规范SJ 50973/23-2006
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：振动加速度 检测样品：滚动轴承 标准：《滚动轴承振动（加速度）测量方法》JB/T5314-2002 《滚动轴承深沟球轴承振动（加速度）技术条件》 JB/T7047-2006
检测项：内径 检测样品：滚动轴承 标准：《滚动轴承 测量和检验的原则及方法》GB/T307.2-2005
检测项：径向游隙 检测样品：金属材料 标准：《滚动轴承 径向游隙的测量及评定方法》 GB/T25769-2010
机构所在地：浙江省杭州市 更多相关信息>>
检测项：冲击 检测样品：军用设备 标准：军用装备实验室环境试验 方法 第18部分:冲击试验 GJB 150.18A-2009 7.2.1～7.2.6
检测项：冲击 检测样品：电工电子产品 标准：电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击 GB/T 2423.5-1995
检测项：冲击 检测样品：电子及电气元件 标准：电子及电气元件试验方法GJB 360B-2009 方法201 方法204 电子及电气元件试验方法MIL-STD-202G-2004 方法201 方法204
机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>
检测项：冲击试验 检测样品：机电设备及电子电工产品 标准：军用设备环境试验方法 冲击试验 GJB 150.18-1986
检测项：冲击试验 检测样品：机电设备及电子电工产品 标准：军用装备实验室环境试验方法 第18部分：冲击试验 GJB 150.18A-2009
检测项：冲击试验 检测样品：机电设备及电子电工产品 标准：舰船电子设备环境试验 颠震试验 GJB 4.8-1983
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：CMOS电路 标准：SJ/T10741-2000半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 第5.2节
检测项：输出高电平电压 检测样品：TTL电路 标准：SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项：插入损耗 检测样品：电磁继电器 标准：GJB65B-1999有可靠性指标的电磁继电器总规范
机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项：TRM/CA/05/C(蓝牙输出频谱-20dB带宽) 检测样品：经典蓝牙设备 标准：蓝牙特别工作组(SIG) 射频 测试套件结构(TSS)和测试目的(TP)规范 1.2/2.0/2.0+EDR/2.1/2.1+ EDR/3.0+HS/4.0/4.1 RF.TS.4.1.0(2013)
检测项：50W水平与垂直火焰 检测样品：电工电子产品 标准：电工电子产品着火危险试验 第16部分: 试验火焰 50W 水平与垂直火焰试验方法 GB/T 5169.16-2008； IEC 60695-11-10:1999+A1:2003
检测项：绝缘与配线 检测样品：移动通信手持机锂电池 标准：移动通信手持机锂电池的安全要求和试验方法 YD1268.1-2003
检测项：20dB带宽 检测样品：无线通信设备（天线性能） 标准：YD/T 1977-2009 2GHz TD-SCDMA移动台空间射频辐射功率和接收机性能测量方法 YD/T 1978-2009 2GHz WCDMA移动台空间射频辐射功率和接收机性能测量方法 YD/T 1484-2011 移动台空间射频辐射功率和接收机性
检测项：峰值输出功率 检测样品：蓝牙设备 标准：FCC Part15 2011-10 FCC 第15部分,子部分C和子部分B: 15.205 限值频段操作; 15.207 传导限值; 15.209 辐射杂散限值; 通用要求; 15.247 工作在902–
