E、B间击穿电压检测实验

超声角膜测厚仪

简介

超声角膜测厚仪

简介

眼科高频超声诊断仪产品描述：通常由探头、超声波发射/接收电路、信号处理、图像显示等部分组成。利用超声脉冲回波原理，完成眼科诊断信息采集、显示、测量的专用超声设备。不包括适用于《YY∕T 0107 眼科A型超声测量仪》标准的眼科A型超声测量仪和适用于《YY 0773 眼科B型超声诊断仪通用技术条件》标准的眼科B型超声诊断仪。

眼科高频超声诊断仪预期用途：专用于眼科的超声诊断设备。实现眼球及眼眶的超声成像、角膜厚度测量、眼轴长度测量等功能。

眼科高频超声诊断仪品名举例：眼科高频超声诊断仪、眼科超声生物显微镜

眼科高频超声诊断仪管理类别：Ⅲ

眼科B型超声诊断仪产品描述：通常由探头、超声波发射/接收电路、信号处理、图像显示等部分组成。利用超声脉冲回波原理，完成眼科诊断信息采集、显示、测量的专用的适用于《YY∕T 0107 眼科A型超声测量仪》标准的眼科A型超声测量仪和适用于《YY 0773 眼科B型超声诊断仪通用技术条件》标准的眼科B型超声诊断仪。

眼科B型超声诊断仪预期用途：专用于眼科的超声诊断设备。实现眼球及眼眶的超声成像、角膜厚度测量、眼轴长度测量等功能。

眼科B型超声诊断仪品名举例：眼科B型超声诊断仪、超声角膜测厚仪、眼科A型超声测量仪、眼科AB型超声诊断仪

眼科B型超声诊断仪管理类别：Ⅱ

眼科超声诊断设备相关指导原则：
1、眼科超声诊断设备注册技术审查指导原则
2、眼科高频超声诊断仪注册技术审查指导原则

眼科超声诊断设备相关标准：
1、YY/T 0718-2009 眼科仪器检影镜
2、YY/T 1080-2009 眼科仪器直接检眼镜
3、YY/T 0756-2009 光学和光学仪器激光和激光相关设备激光光束功率（能量）密度分布的试验方法
4、YY/T 0107-2015 眼科A型超声测量仪
5、YY/T 0773-2010 眼科B型超声诊断仪通用技术条件
6、YY/T 0787-2010 眼科仪器角膜地形图仪

眼科超声诊断设备相关检测项目：
眼科高频超声诊断仪1 . 要求《眼科高频超声诊断仪： YY/T 0849-2011》
2 . 工作条件《眼科高频超声诊断仪： YY/T 0849-2011》
3 . 性能《眼科高频超声诊断仪： YY/T 0849-2011》
4 . 功能《眼科高频超声诊断仪： YY/T 0849-2011》
5 . 安全《眼科高频超声诊断仪： YY/T 0849-2011》
6 . 外观和结构《眼科高频超声诊断仪： YY/T 0849-2011》
7 . 环境试验《眼科高频超声诊断仪： YY/T 0849-2011》
眼科B型超声诊断仪8 . 要求《眼科B型超声诊断仪通用技术条件： YY/T 0773-2010》
9 . 工作条件《眼科B型超声诊断仪通用技术条件： YY/T 0773-2010》
10 . 性能《眼科B型超声诊断仪通用技术条件： YY/T 0773-2010》
11 . 功能《眼科B型超声诊断仪通用技术条件： YY/T 0773-2010》
12 . 安全《眼科B型超声诊断仪通用技术条件： YY/T 0773-2010》
13 . 外观和结构《眼科B型超声诊断仪通用技术条件： YY/T 0773-2010》
14 . 环境试验《眼科B型超声诊断仪通用技术条件： YY/T 0773-2010》

收起百科↑ 最近更新：2023年04月23日

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中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

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检测项：发射极--基极击穿电压BVEBO 检测样品：场效应管标准：GB/T4586-1994 《半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管》

检测项：集电极--发射极击穿电压BVCEO 检测样品：场效应管标准：GB/T4586-1994 《半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管》

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中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：漏－源击穿电压检测样品：晶闸管标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407

检测项：反向击穿电压检测样品：双极型晶体管标准：半导体器件分立器件第2部分:整流二极管GB/T4023-1997Ⅳ篇1.3

检测项：集电极-基极击穿电压检测样品：场效应晶体管标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997 方法3011

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贵州航天计量测试技术研究所

检测项：栅源击穿电压V（BR）GSS 检测样品：晶体振荡器标准：《晶体振荡器总规范》GJB 1648-1993

检测项：漏源击穿电压V（BR）DSS 检测样品：晶体振荡器标准：《晶体振荡器总规范》GJB 1648-1993

检测项：击穿电压V(BR) 检测样品：光电耦合器标准：《半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件》GB/T 15651-1995 《半导体分立器件试验方法》GJB 128A-1997

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北京振兴计量测试研究所

检测项：反向击穿电压检测样品：晶体管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T4586-1994

检测项：集电极-发射极击穿电压检测样品：晶体管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T4587-1994

检测项：集电极-基极击穿电压检测样品：晶体管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T4587-1994

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上海精密计量测试研究所

检测项：漏-源击穿电压V(BR)DSS 检测样品：半导体集成电路时基电路标准：GB/T14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

检测项：发射极-基极击穿电压V(BR)EBO 检测样品：晶体管标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管

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北京东方计量测试研究所

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国网湖北省电力公司电力科学研究院

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检测项：交流电压检测样品：高压电器设备标准：高电压试验技术第1部分：一般定义及试验要求 GB/T16927.1-2011 高电压试验技术第2部分：测量系统 GB/T16927.2

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检测项：二氧化硅检测样品：电力设备用油标准：绝缘油击穿电压测定法 GB/T 507-2002

检测项：绝缘油介电强度检测样品：电力设备用油标准：绝缘油击穿电压测定法 GB/T 507-2002

检测项：磷酸酐检测样品：电力设备用油标准：绝缘油击穿电压测定法 GB/T 507-2002

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