GHB614转化体检测实验

植入式心律转复除颤器

简介

植入式心律转复除颤器

简介

植入式心律转复除颤器产品描述：通常由植入式脉冲发生器和扭矩扳手组成。通过检测室性心动过速和颤动，并经由电极向心脏施加心律转复/除颤脉冲对其进行纠正。

植入式心律转复除颤器预期用途：用来治疗快速室性心律失常。再同步治疗除颤器还可用于心力衰竭治疗。

植入式心律转复除颤器品名举例：植入式心律转复除颤器、植入式再同步治疗心律转复除颤器、植入式皮下心律转复除颤器

植入式心律转复除颤器管理类别：III

植入式心律转复除颤器相关标准：
1、YY/T 0972-2016 有源植入医疗器械植入式心律调节设备用四极连接器系统尺寸和试验要求
2、YY/T 0492-2017 植入式心脏起搏器电极导管
3、YY 0945.2-2015 医用电气设备第2部分：带内部电源的体外心脏起搏器安全专用要求

收起百科↑ 最近更新：2023年03月30日

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慈溪出入境检验检疫局综合技术服务中心/慈溪市天瑞消费品检测技术有限公司

检测项：部分参数检测样品：自行车零件标准：自行车内变速后轴 QB/T 2178-1995

机构所在地：浙江省慈溪市更多相关信息>>

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广西壮族自治区汽车拖拉机研究所

检测项：方向盘检测样品：摩托车标准：GB 7258-2012 机动车运行安全技术条件

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杭州老板电器股份有限公司实验室

检测项：非正常工作检测样品：吸油烟机标准：《家用和类似用途电器的安全第1部分：通用要求》 GB4706.1-2005 《家用和类似用途电器的安全吸油烟机的特殊要求》 GB4706.28-2008

机构所在地：浙江省杭州市更多相关信息>>

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长城汽车股份有限公司试验中心

检测项：开关性能及耐久试验检测样品：汽车电器标准：QC/T 198-1995 汽车用开关通用技术条件

检测项：汽车用开关性能及耐久试验检测样品：汽车电器标准：QC/T 198-1995 汽车用开关通用技术条件

机构所在地：河北省保定市更多相关信息>>

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邢台出入境检验检疫局自行车检测中心

检测项：部分参数检测样品：自行车钳形闸标准：自行车钳形闸QB/T1719-2012

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测势界（宁波）检测产品技术有限公司

检测项：部分项目检测样品：应急照明灯具标准：灯具第2-22部分：特殊要求应急照明灯具安全要求 GB 7000.2-2008

检测项：部分项目检测样品：应急照明灯具标准：灯具第2-22部分：特殊要求应急照明灯具安全要求 IEC 60598-2-22:1997+A1:2002+A2:2008

检测项：部分项目检测样品：应急照明灯具标准：灯具第2-22部分：特殊要求应急照明灯具安全要求 EN 60598-2-22:1998+A1:2003+A2:2008

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东莞市诺尔检测科技有限公司

检测项：马达堵转，过载检测样品：家用和类似用途设备标准：IEC 60335-1 :2001+A1 :2004+A2 :2006,EN60335-1：2002+A11:2004+A1：2004+A12：2006+A2：2006+A13：2008+A14:2010,IEC60335-1:2010, GB4706.1

检测项：马达堵转，过载检测样品：家用和类似用途设备标准：EN60335-1：2012,IEC 60335-1 :2001+A1 :2004+A2 :2006, IEC60335-1:2010, GB4706.1-2005, AS/NZS60335.1:2002+A1:2004+A2:2007+A3：2007+

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北京卫星环境工程研究所机电产品环境与可靠性试验中心（原511所）

检测项：加速度试验检测样品：军用及民用电子产品、电气产品、机械产品、机电产品标准：《运载器、上面级和航天器试验要求》GJB 1027A-2005

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艾默生网络能源（西安）有限公司测试部实验室

检测项：二次侧电机堵转测试检测样品：家用和类似用途电器空调器（安全）标准：GB4706.1-2005 IEC 60335-1:2010 EN60335-1 :2012 家用和类似用途电器的安全第1部分：通用要求;GB4706.32-2012 IEC 60335-2-40:2005 EN60335-2-40:2003家用和类似用

检测项：电机堵转测试检测样品：家用和类似用途电器空调器（安全）标准：GB4706.1-2005 IEC 60335-1:2010 EN60335-1 :2012 家用和类似用途电器的安全第1部分：通用要求;GB4706.32-2012 IEC 60335-2-40:2005 EN60335-2-40:2003家用和类似用

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中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：三态转高电平输出时间检测样品：集成电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：三态转低电平输出时间检测样品：集成电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输出高电平转三态时间检测样品：集成电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

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