您当前的位置：首页 > 中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室 > 集成电路中三态转低电平输出时间检测
样品名称：集成电路
检测项目：三态转低电平输出时间
认可资质：CNAS CMA
检测标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM
所属行业分类：电子电气 > 电子元件检测 >
标签： 三态转低电平输出时间 集成电路
