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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:粒子碰撞噪声检测(PIND) 检测样品:半导体集成 电路 (TTL) 标准:半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:零点误差 检测样品:光电耦合器 标准:SJ 20961-2006 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
检测项:失调误差 检测样品:光电耦合器 标准:SJ 20961-2006 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
检测项:零点误差 检测样品:光电耦合器 标准:SJ/T 10818-1996 半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输出频率 检测样品:光伏逆变器 标准:AS/NZS 3100:2009 认可和测试说明-针对电气设备的基本要求
检测项:总谐波失真 检测样品:光伏逆变器 标准:AS/NZS 3100:2009 认可和测试说明-针对电气设备的基本要求
检测项:保护 检测样品:光伏逆变器 标准:AS/NZS 3100:2009 认可和测试说明-针对电气设备的基本要求
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:基本误差 检测样品:涡轮流量计 标准:封闭管道中气体流量的测量 涡轮流量计 GB/T 18940-2003
检测项:尺寸公差 检测样品:涡街流量计 标准:《产品几何技术规范(GPS)光滑工件尺寸的检验》 GB/T3177-2009
检测项:线性度 检测样品:涡轮流量计 标准:封闭管道中气体流量的测量 涡轮流量计 GB/T 18940-2003
机构所在地:江苏省镇江市 更多相关信息>>
检测项:感官 检测样品:绿茶 标准:《绿茶 笫1部分:基本要求》GB/T 14456.1-2008中的4条
检测项:全项目 检测样品:灯的控制装置 标准:普通照明用自镇流荧光灯能效限定值及能效等级 GB 19044-2003
检测项:绝缘电阻和电气强度 检测样品:电工电子产品、固体绝缘材料 标准:电工电子产品着火危险试验 第12部分:灼热丝/热丝基本试验方法 材料的灼热丝可燃性试验方法 GB/T 5169.12-2006
机构所在地:浙江省绍兴市 更多相关信息>>
检测项:输入偏置电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:共模抑制比 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输出短路电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项:输入偏置电流IIb 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:开环电压增益AVD 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输入电流II 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项:输入偏置电流 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996
检测项:共模抑制比 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996
检测项:输出电流 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:测控单元交流工频电量的基本误差测试 检测样品:变电站综合自动化系统 标准:交流采样远动终端技术条件 DL/T 630-1997
检测项:装置的功能试验 检测样品:同步并列装置 标准:继电器及装置基本试验方法GB/T 7261-2008
检测项:电源电压抑制比 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992
检测项:最大差模输入电压 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992
检测项:输出高电平电压 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>