中兴通讯股份有限公司材料实验室

检测项：外观检查 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883H-2010 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 电子、电磁和机电元器件破坏性物理分析方法 MIL-STD-1580B

检测项：开封内目检 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883H-2010 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 电子、电磁和机电元器件破坏性物理分析方法 MIL-STD-1580

检测项：X射线照相 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883H-2010 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 电子、电磁和机电元器件破坏性物理分析方法 MIL-STD-1580

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

上海优立检测技术有限公司

检测项：CE101 25Hz~10kHz 电源线传导发射 检测样品：军用设备和分系统 标准：军用设备、分系统电磁发射和敏感度要求 GJB151A-1997 军用设备、分系统电磁发射和电磁敏感度测量 GJB152A-1997 电磁干扰发射和敏感度控制要求 MIL_STD_461D-1993 电磁干扰特性测量 MIL_STD_462D-1993

检测项：CE102 10kHz~10MHz 电源线传导发射 检测样品：军用设备和分系统 标准：军用设备、分系统电磁发射和敏感度要求 GJB151A-1997 军用设备、分系统电磁发射和电磁敏感度测量 GJB152A-1997 电磁干扰发射和敏感度控制要求 MIL_STD_461D-1993 电磁干扰特性测量 MIL_STD_462D-1993

检测项：CE107 电源线尖锋信号(时域)传导发射 检测样品：军用设备和分系统 标准：军用设备、分系统电磁发射和敏感度要求 GJB151A-1997 军用设备、分系统电磁发射和电磁敏感度测量 GJB152A-1997 电磁干扰发射和敏感度控制要求 MIL_STD_461D-1993 电磁干扰特性测量 MIL_STD_462D-1993

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

西安航空动力控制科技有限公司理化计量检测中心

检测项：耐磨性试验 检测样品：金属材料 标准：用泰伯尔磨蚀机测定有机涂层耐磨性的标准试验方法 ASTM D 4060-10 铝及铝合金阳极氧化膜层军用标准 MIL-A-8625F

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

广东省微生物分析检测中心

检测项：防霉性能（耐霉菌性能、霉菌试验、长霉试验） 检测样品：抗微生物材料或产品 标准：国防部试验方法标准：环境工程考虑和实验室试验： 方法508.5霉菌试验 ,MIL-STD-810F：2000

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

深圳市摩尔环宇通信技术有限公司摩尔实验室

检测项：低温 检测样品：电子设备及军用设备 标准：环境工程考虑和实验室试验 MIL-STD-810G-2008

检测项：高温 检测样品：电子设备及军用设备 标准：环境工程考虑和实验室试验 MIL-STD-810G-2008

检测项：振动 检测样品：电子设备及军用设备 标准：环境工程考虑和实验室试验 MIL-STD-810G-2008

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

佛山市香港科技大学LED-FPD工程技术研究开发中心实验室

检测项：金线拉力 检测样品：LED封装前段样品 标准：粘结强度（破坏性拉力键合测试） MIL-STD-883H Method 2011.8

检测项：芯片剪切强度 检测样品：LED灌封胶/PPA 标准：芯片剪切强度测试 MIL-STD-883H Method 2019.8

机构所在地：广东省佛山市 更多相关信息>>

北京科星瑞特电磁兼容工程技术有限公司电磁兼容实验室

检测项：安全裕度 检测样品：军用设备和分系统、武器系统 标准：系统电磁兼容性要求 GJB 1389A-2005 系统电磁环境效应要求 MIL-STD-464A

检测项：系统内电磁兼容性 检测样品：军用设备和分系统、武器系统 标准：系统电磁兼容性要求 GJB 1389A-2005 系统电磁环境效应要求 MIL-STD-464A

检测项：分系统和设备电磁干扰 检测样品：军用设备和分系统、武器系统 标准：系统电磁兼容性要求 GJB 1389A-2005 系统电磁环境效应要求 MIL-STD-464A

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

通标标准技术服务有限公司安吉分公司

检测项：破坏类型 检测样品：铝或铝合金上化学反应覆盖层 标准：铝或铝合金上化学反应覆盖层 MIL-DTL-5541F-2006

检测项：凹坑或斑点数 检测样品：铝或铝合金上化学反应覆盖层 标准：铝或铝合金上化学反应覆盖层 MIL-DTL-5541F-2006

机构所在地： 更多相关信息>>

北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司中心实验室

检测项：湿热试验 检测样品：电气电子 产品 标准：《微电子器件试验方法标准》MIL-STD-883H:2010 方法1008.2

检测项：湿热试验 检测样品：电气电子 产品 标准：《环境工程考虑和实验室试验 第二部分:实验室试验方法 》 MIL-STD-810F:2000 方法501.4

检测项：湿热试验 检测样品：电气电子产品 标准：《微电子器件试验方法标准》MIL-STD-883H:2010 方法1004.7

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

西安芯派电子科技有限公司测试应用中心

检测项：通态电阻 检测样品：功率金属氧化物场效应管 标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750E 2006 方法3405.1

检测项：阈值电压 检测样品：功率金属氧化物场效应管 标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750E 2006 方法 3404

检测项：漏极反向电流 检测样品：功率金属氧化物场效应管 标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750E 2006 方法3415.1

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>